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佚名 2024-05-22 人已围观

简介arrowc_arrowcoffee感谢大家提供这个arrowc问题集合,让我有机会和大家交流和分享。我将根据自己的理解和学习,为每个问题提供清晰而有条理的回答。1.如何使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯2.AFM中样品表面性质对测量的影响3.chemdraw怎么画分段箭头如何使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯在ChemD

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       感谢大家提供这个arrow c问题集合,让我有机会和大家交流和分享。我将根据自己的理解和学习,为每个问题提供清晰而有条理的回答。

1.如何使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯

2.AFM中样品表面性质对测量的影响

3.chemdraw怎么画分段箭头

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如何使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯

       使用chemdraw画碳链长度为二的脂肪酸酯在ChemDraw中完成并不是很难,掌握一定的绘制技巧就能解决。

       必须掌握的ChemDraw绘制技巧

       ChemDraw方向的调整、结构式等方面的绘制技巧,希望能让用户更加轻松便捷地绘制化学图形。

       1.流程图:在流程图中,往往需要绘制各种箭头和直线,可以使用ArrowTools(箭头工具)和Pen Tools(钢笔工具)进行绘制。

       2.键方向的调整。对于使用Hashed Wedged Bond工具、Wedged Bond 工具或HollowWedged Bond 工具绘制出来的不对称键,将鼠标放在键的中间,出现加亮框,单击即可更改键的取向

       3.根据结构得出化合物命名:选中结构式,单击Structure/Convert Structure to Name菜单命令,即可在结构式下面出现系统命名。

       4.根据化合物名称得到结构式:单击Structure/Convert Name to Structure菜单命令,在对话框中输入化合物名称或缩写,即可得到相应的结构。

       5.ChemDraw可以检查绘制的结构式是否有问题。选中结构式后,执行Structure/Check Structure菜单命令,ChemDraw 就会将一个红色方框罩在有问题的原子或官能团上,便于检查。

       关于ChemDraw如何绘制化学结构式的教程,可以参考ChemDraw官网的相关教程。

       索引自:/ruheshiyong/huizhi-jiqiao.html

AFM中样品表面性质对测量的影响

具体操作步骤如下:

       1.流程图:在流程图中,往往需要绘制各种箭头和直线,可以使用ArrowTools(箭头工具)和PenTools(钢笔工具)进行绘制。

       2.键方向的调整。对于使用HashedWedgedBond工具、WedgedBond工具或HollowWedgedBond工具绘制出来的不对称键,将鼠标放在键的中间,出现加亮框,单击即可更改键的取向

       3.根据结构得出化合物命名:选中结构式,单击Structure/ConvertStructuretoName菜单命令,即可在结构式下面出现系统命名。

       4.根据化合物名称得到结构式:单击Structure/ConvertNametoStructure菜单命令,在对话框中输入化合物名称或缩写,即可得到相应的结构。

       5.ChemDraw可以检查绘制的结构式是否有问题。选中结构式后,执行Structure/CheckStructure菜单命令,ChemDraw就会将一个红色方框罩在有问题的原子或官能团上,便于检查。

chemdraw怎么画分段箭头

       原子力显微镜中探针与样品间作用力及AFM 的应用

       马全红 赵 冰X 张征林 朱争鸣

       (东南大学化学化工系 南京210096)

        摘要 综合讨论了原子力显微镜(AFM) 中探针与样品间作用力,特别是范德华力的形成机制;

       并假定针尖形状为抛物形,定量研究了针尖与样品间作用力,探讨了AFM 的若干应用。

       1 前言[1~3 ]

        在现代科学技术中,常常需要研究尺寸小于可见光波长的物体,例如研究单个蛋白质分

       子,考察样品中原子尺度的缺陷,设计微电子电路图等等,几十年来虽有许多用于表面结构分

       析的现代仪器问世,但多数技术都是繁琐的、破坏性的方法。1982 年,国际商业机器公司苏黎

       士实验室的Gerd Binig 和Heinrich Rohrer 研制成功了扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Micro2

       scope ,STM) ,1986 年又推出了原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM) ,从而打开了直接观

       测微观世界的大门。

        扫描隧道显微镜利用量子理论中的隧道效应,控制隧道电流的恒定而使探针随表面起伏

       运动,从而描绘出表面态密度的分布或原子排列的图象,STM 只能直接观察导体和半导体的表

       面结构,在原子力显微镜中,不再要求试样具有导电表面,而是利用探针尖端原子与试样表面

       原子的电子云相重叠时所产生的作用力,大大扩展了它的适用范围,适用于更多类型材料的表

       面成像。AFM 的工作原理接近指针轮廓仪,且采用STM 技术。其原理示意图见图1:

       将一个对微弱力极敏感

       的微悬臂一端固定,其弹性常

       数比原子间弹性常数低一个

       数量级, 另一端有微小针尖,

       由于针尖尖端原子与样品原

       子间存在极微弱的作用力

       (10 -8 ~10 -6N) ,扫描时控制作

       用力的恒定,带针尖的微悬臂图1 STM 和AFM 原理示意图

       将对应于原子间作用力的等

       位面,在垂直于样品表面方向起伏运动,利用光学检测法或隧道电流检测法,测得微悬臂对应

       于扫描各点的位置变化,从而获得样品表面原子级形貌信息。

       X 东南大学生医系生物电子学实验室

       . 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.

       图2 虚光子分布示意图

       2 AFM 中探针和样品间作用力[4~6]

       2. 1 范德华力

        任何物体在它的内部或表面都存在有波动电磁场,一部分表现为传输波,一部分表现为有

       阻尼、按指数衰减的“瞬时”波,这种辐射场主要有两个来源:量子振动和永久多电极的热激发。

       在AFM 探针逐渐靠近样品表面时,产生“虚光子图像”(virtual

       photon image) ,如图2 所示。针尖与样品相距很远时,其表面附

       近将出现一定的虚光子分布。当它们靠近后虚光子彼此发生

       交换作用, 从而引起二者之间的宏观范德华力( VDW) 。

       Dzyalosdinskii ,Lifshitz 和Pitaevskii (DLP) 运用量子场统计物理的

       方法,首次计算了浸在水溶液中的两个宏观物体之间互相作用

       所产生的范德华力,其相互作用力的大小和范围以一种复杂的

       方式依赖于探针、样品和针尖附近样品表面的微观几何特征和

       介电特性。在非接触式AFM 中,可进行合理的几何假设并假定探针和样品具有类似球体的各

       向同性介电性质,这样就可以用DLP 形基本框架进行研究。为此可提出“Hamaker 常数”、“非

       阻滞Hamaker 常数”“、阻滞波长”3 个常数来完整地表述由探针、样品和环境介质所组成的系

       统,把非接触AFM 作为图像形貌和表面分析的一个理想工具。

       2. 2 其他作用力

        针尖与样品表面可能发生形变,从而有形变(或粘滞) 力,若探针和样品接触到液体,则常

       会观察到它们表面带有电荷,产生静电力;此外,特定材料的探针和样品,可能会有磁力,样品

       表面可能存在液体而产生表面张力,以及一些由于彼此间化学结合而产生的作用力。若对探

       针和样品进行预处理和精心设计,可避免形变力、磁力、表面张力、化学作用力等影响,作为近

       似计算,可以只考虑斥力和范德华力。

       2. 3 作用力的定量研究

        根据Lennard2Janes 公式,原子间的相互作用势能如下:

       αβ

        u(r) = 12 -6 (1)

       rr

        其中, r 是所研究的原子之间的距离,α、β为相互作用参数,第一项是相互排斥作用势能,

       第二项是范德华力的相互吸引作用势能。

        首先求算范德华力,正象文献[5] 中所指出的“宏观物体间的范德华力是由它们中单个原

       子间作用的总和决定的”,据此可以确定此长程力随距离的变化规律。假设针尖绕Z 轴旋转

       成抛物形,尖端的曲率半径设为R,d 为针尖至样品平面距离,则有针尖方程为:

       22

       x +y

        Z= 2 R

       +d (2)

        计算样品平面( x. y) 和单个针尖原子之间的引力势能u( l) ,忽略样品的有限尺寸引起的

       边缘效应,可以得到:

       βn1π

        u(l) =-

       6 l2 (3)

        式中, l 是从针尖原子到样品之间的距离,n1 是样品的原子密度。

        此式对高为H 的抛物形针尖进行积分,经整理得到范德华引力为:

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       AR d2

        Fatt =-

       6 d2 (1 -3

       H2 ) (式中A 为Hamarker 常数) (4)

        再求算斥力,针尖和样品间的斥力是短程力,一般可表示为exp ( -r/ r0), r0 为相互作用

       半径(<0.1nm) ,其有效相互排斥仅发生在最近的原子之间,由此得到针尖和样品间的斥力势

       能:

        urep = αN/ d12 (5)

        α为参数,N 是针尖尖端的有效原子数,在一般的研究中可根据针尖的半径来确定。若考

       虑针尖尖端发生形变,样品形变忽略不计,对形变后的针尖和平面样品进行积分,得斥力为:

        Frep = 4π2αn1 n2 r 40 R(1 +

       Δr0

       d) exp (-

       d+

       r0

       Δd) (6)

        式中d 为非形变针尖和样品间距,Δd 为针尖形变量, n2 是针尖原子密度。

        最终可求得针尖和样品表面作用力为:

        Ftot =

       12αN-

       AR

       -3 d2

       (7)

       d13 6 d2 (1

       H2)

       2. 4 其他形状的针尖

        在前面的讨论中我们假定了针尖为抛物形,实际针尖可能是其它形状,如圆锥形、双曲线、

       球形等等。但不管何种针尖,只要保持曲率半径R 不变,斥力就相同, 而引力与长程相互作用

       有关,随针尖形状不同,可以对(3) 式按针尖形状进行积分得到引力。经计算发现,如果曲率半

       径R > 10nm , 无论选择何种形状针尖得到的Ftot 都是一样的。在一般的实验中这个条件可以

       得到满足。

       3 AFM 的应用前景[7~11]

        AFM 具有分辨率高、成本低、消耗低、工作范围宽等一系列优点, 可在真空、大气、溶液、常

       温、低温等不同的环境下工作,已被大量应用于表面分析领域,通过对表面形貌的分析、归纳、

       总结,可进一步得到更深层次的信息。

        用AFM 已经获得了包括绝缘体和导体在内的许多不同材料的原子级分辨率图像,首先获

       得的是层状化合物图像,如石墨、MoS2 和氮化硼等。其后又在大气和水覆盖下获得在云母片

       上外延生长的金膜表面的原子图像,还得到了LiF 和NaCl 等离子晶体的原子级分辨率图像。

        沸石是在原子或分子尺度上具规则小孔或多通道结构的结晶硅铝酸盐,已广泛应用于化

       学工业中,用AFM 可实时观察中性分子和离子在沸石表面的吸附,进而阐明分子筛网内外表

       面化学、表面结构和多相催化等许多关于沸石的化学本质。

        Si (111) 表面的7 ×7 重构是表面科学中热点问题之一,曾提出多种理论和实验技术,采用

       AFM/ STM 技术相结合可测得硅活性表面Si (111) -7 ×7 的原子分辨率图像,同时发现GaAs

       (110) 有类似于Si (110) 面的链状化学结构,通过表面态密度的能量关联来区分同一晶胞的不

       同化学元素,此技术可推广到其他异质系统。

        AFM 还可以在原子级分辨率的水平上对浸在电解液中的电极进行现场观察,由于AFM 的

       针尖可以是不参与电化学反应的非导体,因而比用STM 更为有利。

        除了观察原子级平坦的表面结构之外,AFM 还成功地应用于观察吸附在基底上的有机分

       子和生物样品,如山梨酸、DNA 、红紫膜和蛋白质表面,在水下进行AFM 实验除了允许在较小

       相互作用力下工作外,还提供了在生理环境中直接观察生物样品的可能性。Quate 等人用AFM

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       实时观察了一种在血液块凝中起重要作用的蛋白质——血纤维蛋白原的聚合过程,显示了

       AFM 在研究实时生物过程中微妙细节的能力。

        Hansma 和Radmacher 等综合评述了AFM 在有机样品从分子分辨有机薄膜到活的细胞应

       用, 讨论了图像形成机理和新的成像模式,观察了L2B 膜,同时指出在活性位上“写”或“擦去”

       分子以及控制分子的技术,可为新一代生物传感器奠定基础。近年来又运用AFM 技术在细胞

       上直接观测到核膜孔、细胞骨架的重排,DNA 和RNA 聚合酶的相互作用、霍乱霉素和百日咳霉

       素的结构等, 表明了AFM 在揭示生物和药物分子结构中的重要作用。

        AFM 不仅可以观察在小范围内的精细结构,在大尺度物体的形貌观察中也起着重要作

       用,如研究红血细胞、白血细胞、光盘中的记录位、集成电路芯片、半导体的倾斜超晶格结构等。

        利用AFM 测量中对力的极端敏感性,可以测量样品表面的纳米级力学性质如弹性、塑性、

       硬度和粘着力等,还能在原子水平上测量摩擦力,研究摩擦机理和液晶分子取向。在半导体技

       术中用于分析晶粒尺寸、表面微粗糙度、表面缺陷和临界尺寸,表征平面结构和半导体薄膜,优

       化清洗和刻蚀工艺等微细加工过程。

        大量实例表明AFM 作为一项独立的表面结构分析方法, 已日趋成熟。它能够得到原子

       级分辨率的图像,测量原子表面间作用力,分辨出单个原子。实时的得到表面三维图象,及对

       应于表面电子密度的形貌;观察单个原子层的局部表面结构、表面缺陷、表面重构、表面吸附体

       的形态和位置,以及由吸附体引起的表面重构等;测量表面的弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦力

       等性质。配合扫描隧道谱还可得到有关表面电子结构的信息,例如表面的不同层次的态密度、

       表面电子阱、表面势垒的变化和能隙结构等。可以预料AFM 在表面科学、材料科学、生命科学

       等领域中有着广阔的应用前景。

       参 考 文 献

       1 Rnggar D. Physical Today , 1990 ,43(9) :23~30

       2 白春礼. 扫描隧道显微技术及其应用. 上海:上海科技出版社,1992

       3 Hansma P K, Hings V B. Science , 1988 ,242 : 209~226

       4 Hartmann U. Ultramicroscopy ,1992,42-44: 59~65

       5 Sokolor I Y. Surface science , 1994 ,311 : 287~294

       6 Girard C. Physical Review B , 1989 ,40 (18) : 12133~12139

       7 Komiyaa M. Jpn J Appl Phys , 1996 ,35(4A) :2318~2325

       8 Peters L. Semiconductor International . 1993 ,8 :61~64

       9 Wison D L. J Vac Sci Technol , 1996 ,B14 (4) :2407~2416

       10 Giessibl F J . Science , 1995 ,267(6) :68~71

       11 张亦奕1 电子显微学新进展1 合肥:中国科技大学出版社,1996

       (上接第28 页) 参 考 文 献

       1 Brown I D , Altermatt D. Acta Cryst , 1985 ,B41 :244

       2 Thorp H H. Inorg Chem , 1992 ,31 :1585

       3 Chaudhuri P. Angew Chem , Int Ed Engl , 1985 ,24 :778

       4 Scarrow R C. J Am Chem Soc , 1987 ,109 :7857

       5 Bastian N R. J Am Chem Soc , 1988 ,110 :5581

       6 Liu W, Thorp H H. Inorg Chem , 1993 ,32 :4102

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       . 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.

       1、首先在ChemDraw Prime 17工具栏中选择笔工具并在Curves菜单中选择Full Arrow at End。

       2、其次在需要添加箭头的位置定位单击并拖动,生成需要的箭头雏形,结束后按Esc键或在绘制窗口其他地方单击退出此次编辑。

       3、然后单击箭头,在需要改变形状的位置按住小手光标并望需要的位置拉动,形成对称的箭头结构。

       4、最后使用手型光标选中虚线柄朝需要的方向拖动,将箭头形状调整成自己需要的样式。

       好了,今天关于“arrow c”的话题就到这里了。希望大家能够通过我的讲解对“arrow c”有更全面、深入的了解,并且能够在今后的生活中更好地运用所学知识。